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普林斯頓宣布推出新一代VersaSCAN微區電化學掃描系統

放大字體  縮小字體 發布日期:2014-10-10     來源:[標簽:出處]     作者:[標簽:作者]     瀏覽次數:168
核心提示:

  Scanning Kelvin Probe (SKP) 掃描開爾文探針測試

  Scanning Vibrating Electrode Technique (SVET, SVP) 掃描振動電極測試

  Localized Electrochemical Impedance Spectroscopy (LEIS) 微區電化學阻抗測試

  Scanning Droplet System (SDS) 掃描電解液微滴測試

  Non-Contact Surface Profiling (OSP) 非觸式微區形貌測試

  2. 高精度的樣品定位平臺,分辨率達50nm;樣品測試區域可達100mm.

  3. 建立在普林斯頓50年電化學工作站研發和生產經驗上的集成產品,提供更卓越的電流及電位測試信噪比以及阻抗測試能力。

  4. 多功能軟件可以實現多個微區測試的功能,操作簡便,數據處理及展現功能強大。

  5. 專業的產品應用與技術服務隊伍,提供全方位的售后支持。

VersaSCAN 微區電化學掃描系統

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