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基恩士發布形狀測量激光顯微系統VK-X100/X200系列

放大字體  縮小字體 發布日期:2014-10-10     來源:[標簽:出處]     作者:[標簽:作者]     瀏覽次數:150
核心提示:
顯微系統VK-X100/X200 系列」的銷售。VK-X100/X200 系列1臺機器便可以實現無與倫比的高分辨率大范圍形狀測量。

  高分辨率,大景深觀察

  (1) 高分辨率, 最大放大24000 倍

  (2) 完全聚焦的清晰圖像

  (3) 符合溯源性要求

  仿佛彩色 SEM

  (1) 16 bit 激光彩色觀察

  (2) 放置并且測量,您可以在幾秒鐘內進行分析

  (3) 可拆卸測量頭單元允許各種尺寸的樣品測量。可拆卸測量頭單元可以與其他設備整合并支持遠程操作。

  無損輪廓和粗糙度測量

  (1) 非接觸式設計,可用于測量軟質的工件

  (2) 方便定位測量區域

  (3) 激光光束波長比表面粗糙度測量直徑小

激光顯微系統VK-X100/X200系類

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